XRF

XRF

X-ışını floresans spektrometresi, genel olarak foton-madde etkileşmesi sonucu meydana gelen karakteristik X-Işınları ve saçılma fotonlarının nicel ve nitel değerlendirilmesinde kullanılan bir cihazdır. Enerji dağılımlı X-Işını Floresans Spektrometresi (EDXRF) hızlı, tahrip edici olmayan, ucuz, hassas ve çoklu element analizi özelliklerine sahip olmasından dolayı katı, sıvı ve toz malzemelerin kantitatif ve kalitatif analizi için uygun bir tekniktir. Enerji dağılımlı X-ışını floresans spektrometresinin analiz aralığı atom numarası 11(Sodyum) ile 92 (Uranyum) arası olan elementlerle çalışılabilir.

Teknik Özellikler

Dedektör Tipi: Paladyum Dedektör (Pd)
Soğutma Sistemi: Peltier Soğutma
Gaz Tipi: Helyum (He) (Ölçüm sırasında 80-85 I/h akış hızı)
Ölçüm Aralığı: Sodyum-Uranyum (Na-U)